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发表于:2020-08-19
作者:科翔信息
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专利申请号:
CN201510082868.5
专利类型
发明
IPC 分类号:
C30B29/42 C30B25/02 H01L21/02
应用领域:
半导体材料,应用于太阳能电池等
摘要:
本发明公开了一种在 Ge 衬底上生长 GaAs 外延薄膜的方法,包括步骤:S101、选取 Ge 衬底置于反应腔室中;S102、在所述 Ge 衬底上生长一 As 原子层;S103、在所述 As 原子层上生长一 GaAs 缓冲层, 对所述 GaAs 缓冲层反复进行退火工艺,直至由 RHEED 观察到的图像由点状变为线状;S104、在所述 GaAs 缓冲层上生长 GaAs 外延薄膜。该方法能够促进 Ge 衬底和 GaAs 外延薄膜之间的反相畴自湮灭,提高了外延薄膜的晶体质量和改善了外延薄膜的表面形貌。
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